【英文标准名称】:CorrigendatoDINENISO9000:2000-12
【原文标准名称】:DINENISO9000:2000-12技术勘误
【标准号】:DINENISO9000Berichtigung1-2003
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2003-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:验证;标准;质量控制;质量;管理;词汇;质量管理;质量保证体系;操作计划;选择;质量保证;定义;工业经济;指导手册;质量检查;使用;贸易;工业;基础
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:A00
【国际标准分类号】:01_040_03;03_120_10
【页数】:2P;A4
【正文语种】:德语
【英文标准名称】:Buildingconstruction;jointingproducts;determinationofresistancetoflow(ISO7390:1987);germanversionEN27390:1990
【原文标准名称】:高层建筑.接缝密封材料.抗流动稳定性测定(ISO7390:1987)
【标准号】:DINEN27390-1991
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1991-05
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:建筑密封胶;建筑物;施工材料;试验;测定;密封;连接;密封材料;建筑;接缝密封胶;接缝密封;不下弯特性;蠕变试验;腻子;倾倒试验;连接工艺
【英文主题词】:joiningprocesses;joints;pouringtests;testing;putty;buildings;construction;constructionmaterials;trials;buildingsealants;non-sagproperties;sealingmaterials;tests;flow;sealing;creeptesting;joint
【摘要】:
【中国标准分类号】:Q24
【国际标准分类号】:91_100_50
【页数】:4P;A4
【正文语种】:德语
基本信息
| 标准名称： | 半导体发光二极管芯片测试方法 |
| 英文名称： | Measurement methods for chips of light emitting diodes |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
半导体分立器件 >>
微波、毫米波二、三极管 |
| ICS分类： |
电子学 >>
光电子学、激光设备
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| 发布部门： | 工业和信息化部 |
| 发布日期： | 2009-11-17 |
| 实施日期： | 2010-01-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 工业和信息化部电子工业标准化研究所 |
| 归口单位： | 工业和信息化部电子工业标准化研究所 |
| 起草单位： | 中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、深圳淼浩高新科技有限公司 |
| 起草人： | 鲍超、胡爱华、牟同升、李明远、彭万华 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 2010-01-01 |
| 页数： | 11页 |
适用范围
主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 微波 毫米波二 三极管 电子学 光电子学 激光设备